Ученые из Института физики микроструктур РАН разработали новый метод экспериментального изучения фотонных кристаллов с помощью люминесцентных измерений с угловым разрешением |
||
|
МЕНЮ Главная страница Поиск Регистрация на сайте Помощь проекту Архив новостей ТЕМЫ Новости ИИ Голосовой помощник Разработка ИИГородские сумасшедшие ИИ в медицине ИИ проекты Искусственные нейросети Искусственный интеллект Слежка за людьми Угроза ИИ Атаки на ИИ Внедрение ИИИИ теория Компьютерные науки Машинное обуч. (Ошибки) Машинное обучение Машинный перевод Нейронные сети начинающим Психология ИИ Реализация ИИ Реализация нейросетей Создание беспилотных авто Трезво про ИИ Философия ИИ Big data Работа разума и сознаниеМодель мозгаРобототехника, БПЛАТрансгуманизмОбработка текстаТеория эволюцииДополненная реальностьЖелезоКиберугрозыНаучный мирИТ индустрияРазработка ПОТеория информацииМатематикаЦифровая экономика
Генетические алгоритмы Капсульные нейросети Основы нейронных сетей Промпты. Генеративные запросы Распознавание лиц Распознавание образов Распознавание речи Творчество ИИ Техническое зрение Чат-боты Авторизация |
2025-11-02 20:34 Ученые из Института физики микроструктур РАН разработали новый метод экспериментального изучения фотонных кристаллов с помощью люминесцентных измерений с угловым разрешением. Такой подход делает эксперименты проще, дешевле и позволяет регистрировать слабые световые сигналы, недоступные другим методам. Исследование выполнено при поддержке Российского научного фонда: https://rscf.ru/project/25-22-00386/ Фотонных компьютеров пока не существует, но идея использовать фотоны для передачи информации обещает многократное ускорение вычислений. Для таких систем нужны эффективные источники излучения. Кремний, лежащий в основе современных микросхем, сам по себе почти не светится, поэтому на его поверхности выращивают наноостровки германия и формируют фотонный кристалл, который усиливает их свечение. Однако изучать излучение таких структур сложно: фотонный кристалл светит во все стороны, а стандартные камеры фиксируют лишь ограниченный диапазон углов. Без сложного оборудования невозможно было получить полную диаграмму направленности излучения и выявить эффекты, определяющие, как управлять свойствами наноостровков германия. Авторы использовали спектрометр, дополнив схему измерений диафрагмой, установленной в центр параллельного пучка света, формируемого объективом. Смещая диафрагму, исследователи получили возможность измерять излучение под различными углами, а не только вертикально вверх. Такой подход позволил выявить интересные эффекты и уникальные состояния излучения, проявляющиеся под углами, отличными от нормали к поверхности кристалла. Эти результаты открывают новые возможности управления оптическими свойствами фотонных структур и могут стать основой для развития сенсорных систем и фотонных вычислительных схем. Сегодня при создании фотонных схем около 35% их стоимости приходится на тестирование и отладку — этап, необходимый для проверки качества изготовленных структур. В таких испытаниях фотонные кристаллы можно использовать как тестовые источники излучения, выращенные прямо на одной подложке со схемой. Это позволит заранее оценить ее работоспособность, прежде чем подключать рабочий лазер, и тем самым повысить надежность и снизить затраты на производство. «В дальнейшем мы планируем исследовать поляризацию света, излучаемого фотонными кристаллами. Мы хотим узнать, как именно в фотонных кристаллах формируется поляризованное излучение и как можно это свойство использовать на практике. В перспективе это может быть полезно для дополнительного кодирования информации поляризацией. В целом наша дальнейшая работа будет направлена на изучение того, как еще можно управлять излучением фотонных кристаллов. Мы будем использовать накопленный опыт и поймем, как подобрать параметры фотонного кристалла так, чтобы создать ровно тот источник излучения, который нужен для прикладных задач, например, для сенсорики или для передачи информации», — рассказывает исполнитель проекта, поддержанного грантом РНФ, Артем Перетокин, аспирант Института физики микроструктур РАН Результаты опубликованы в журнале Journal of Applied Physics Источник: www.rscf.ru Комментарии: |
|